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【英雄联盟世界赛押注】如何提高G652D光纤宏弯损耗测试效率
时间:2021-01-31 来源:英雄联盟世界赛押注 浏览量 77177 次
本文摘要:光纤宏弯曲损失测试在国家标准GB/T9771.3-2008中解释说,光纤以30毫米半径松弛地缠绕100圈,1625纳米测量的宏弯曲损失不得超过0.1dB。

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光纤宏弯曲损失测试在国家标准GB/T9771.3-2008中解释说,光纤以30毫米半径松弛地缠绕100圈,1625纳米测量的宏弯曲损失不得超过0.1dB。为了更容易测量倾斜损失和测量精度,可以用一圈或几圈小半径的环形光纤代替100圈光纤展开实验。在这种情况下,绕过的转数半径和允许的倾斜损失后,必须符合30毫米半径100韩元实验的损失值。大部分光纤制造商获得60mm*100圈的识别标准,但如果想在日常测试工作中使用方便快捷的实验方法,他们倾向于根据记录2的建议展开一些一般性区分。

因此,控制32mm*1圈和60mm*100圈的数据差异是合适的。32mm*1宏弯曲测试更简单。两种宏弯曲损失测试方法图如图1右图所示。图1两张宏观弯曲损失测试方法采用上述方法,在10个长生产条件下对光纤样品进行比较测试。

分别以1310nm、1550nm和1625nm三种波长对10个光纤样品进行宏观弯曲平均值、标准差的统计,最后对所有数据进行汇总,得到图2。从总体数据汇总图表可以看出,32mm*1宏弯曲测试方法减去数据的平均值和标准差,小于60mm*100,数据相对平滑,重复性好。当然,放入的样品也不是几乎都遵循这个规律。10个样品中有3个在1625nm窗口下32mm*1扣除数据的平均值小于60mm*100。

也有从1550nm、1625nm窗口中扣除数据的标准差小于60mm*100的样品。


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